第115章 数据背后的眼睛与老街的茶馆（1 / 2）

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一周后，课题组进入第二轮样品辐照实验。

实验数据像往常一样流入共管服务器，小林编写的算法脚本自动进行着清洗、分类和初步分析。但在一个安静的午后，李明恺在复核一批透射电镜照片时，停下了滚动鼠标的手。

屏幕上，是三组不同掺杂样品在相同辐照剂量后的晶格损伤对比。图像清晰，数据完整，但李明恺的注意力被一个微小的细节吸引了——在某个特定角度下，所有样品损伤区域的背景噪音中，都出现了极其微弱的、周期性的明暗条纹。

这种条纹在常规分析中会被当作设备本身的“栅极纹”或样品制备瑕疵过滤掉。但李明恺调出原始数据流，仔细对比了图像采集时的设备日志——电子束的扫描模式、束流稳定性、乃至样品台的微振动补偿记录，一切正常。

那么，这种周期性，或许来自样品本身？

他想起了崔浩提供的情报中，那张展示离子源电流稳定性与特定残留气体分压强关联的图表。如果……如果某种气体残留不仅影响离子源，还会在电子束成像时，因为与样品发生微弱的相互作用，产生这种周期性的衬度变化？

这个念头让他心跳加快。如果猜想成立，那么这种条纹的强度、周期，或许能反过来推演出样品表面残留气体的某些特征，甚至……指向昭栄特定工艺的“指纹”。

他没有立刻声张，而是默默将这批图像单独标记，写了一个简单的脚本，批量提取条纹的强度分布和空间频率。分析结果需要时间。

第二天上午，课题组的周例会上，李明恺在汇报完常规进展后，“顺便”提了一句。

“另外，我在处理昨天的tem图像时，注意到一个可能属于系统噪声的周期性背景信号，挺有意思的。”他调出其中一张放大的图像，指向那些几乎难以察觉的条纹，“我已经初步分析了它的空间频率，看起来不像我们已知的任何设备固有噪声模式。渡边博士，小林君，你们以前在处理类似材料时，遇到过这种情况吗？会不会和样品表面状态，或者制样过程中引入的某些东西有关？”

他将问题限定在“制样过程”这个宽泛且安全的范围，并把图像和分析数据同步到了会议共享屏。

渡边绫凑近屏幕，仔细看了半晌，眉头微蹙：“很细微……我之前确实没注意过。制样过程我们采用的是标准流程，理论上不应该引入这种周期性结构。李桑，能把你提取的特征参数发我一份吗？我想和我们过往的数据比对一下。”

“当然，会后发你。”李明恺看向小林。

小林的目光锁定在屏幕的频谱分析图上，手指在平板电脑上快速滑动，似乎在调阅什么。几秒钟后，他抬起头，表情一如既往的平静：“这种信号非常微弱，信噪比很低。也可能是图像压缩或传输过程中产生的伪影。需要检查原始数据文件的完整性。”

“原始文件我已经校验过哈希值，没有损坏。”李明恺立刻回应，同时捕捉到小林镜片后目光一闪而过的锐利——那不是对“伪影”的怀疑，更像是对“信号可能真实存在”的本能警觉。

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